ADP - Analyse attributiver/diskreter Prozess- und Produktmerkmale mit qs-STAT ®

Veranstalter:
TEQ Technologietransfer & Qualitätssicherung GmbH
Kurzbeschreibung:
Zielsetzung des Seminars ist die

Analyse diskreter Prozess- und Produktmerkmale mit Hilfe grafischer Darstellungen

• Interpretation der sich daraus ergebenden statistischen Kennwerte und die Auswahl geeigneter Qualitätsregelkarten.

Detailbeschreibung:
Vielfach ist es notwendig, aus Zeit- oder Kostengründen Prozess- und Produktmerkmale nicht zu messen, sondern mit Hilfe von Lehren auf i.O. / n.i.O. zu prüfen. Weitere Merkmale lassen sich grundsätzlich nur durch Sichtprüfungen beurteilen. Unmengen dieser Daten werden täglich erfasst, im Wareneingang, bei der Endprüfung und in der Fertigung. Aus diesen Beobachtungsdaten entstehen meistens Daten­friedhöfe!
Vielfach ist die Beurteilung der Daten genau so subjektiv wie die Erfassung der Daten. Dennoch gibt es eindeutige Kriterien, an denen festgemacht werden kann, ob ein Anstieg von 0,9% auf 1,3% nun signifikant und damit bedeutsam oder eher als zufällig einzuschätzen ist. Umgekehrt ist es wichtig zu wissen, wie groß Stichproben zu wählen sind, um aussagekräftige Ergebnisse zu erhalten.
Auch diskrete Prozess- und Produktmerkmale lassen sich mit SPC-Methoden überwachen und im Regelkreis steuern. Qualitätsregelkarten geben sofort Auskunft, ob Handlungsbedarf besteht oder nicht. Selbst Fähigkeitsindizes lassen sich für diskrete Merkmale und interne Benchmarks berechnen. Noch wichtiger sind aber Analysen von Fehlersammelkarten, Pareto- oder ABC-Analysen nach der 80/20-Regel und die Abschätzung von Vertrauensbereichen und Zufallsstreubereichen.