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Patentrecherche Teil 2
Kurs
In Wuppertal ()
Beschreibung
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Kursart
Kurs
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Dauer
1 Tag
Zum Seminar Patentrecherche Teil 2 Die Auswahl geeigneter Datenbanken für die Patentrecherche ist der erste Schritt zu einer gelungenen Patentrecherche – die Selektion der geeigneten Recherchetools und -strategie ist aber ebenso wichtig, um die gewünschten Ergebnisse zu erhalten. Anhand einer Auswahl von Datenbanken werden in diesem Seminar die wichtigsten Recherchestrategien diskutiert und erläutert. Es wird nicht nur detailliert auf die internationale Patentklassifikation (IPC), sondern auch auf die gemeinsame Patentklassifikation (CPC), die japanische Patentklassifikation und auf weitere zielführende Suchstrategien eingegangen. Das Seminar soll nicht im Detail die Nutzung ganz „bestimmter” Datenbanken lehren, sondern einen Überblick über effiziente Recherchemethoden geben. Zur strategischen Optimierung gehört auch, über die letzten Änderungen in Datenbanken und ihren Inhalten informiert zu sein.
Hinweise zu diesem Kurs
Teilnehmerkreis (m/w): (angehende) Mitarbeiter von Patentabteilungen Mitarbeiter aus Forschung und Entwicklung Mitarbeiter aus Patentanwaltbüros jeweils mit den Vorkenntnissen dem Seminar des Vortags entsprechend
Die begrenzte Teilnehmerzahl garantiert einen hohen Lernerfolg!
Meinungen
Themen
- Datenbanken
Inhalte
- Unterschiedliche Rechercheziele
- Stand der Technik
- Markt- und Mitbewerberanalysen
- Rechtsauskünfte, Akteneinsicht - online
- Recherchemittel (Tools)
- Datenbanken
- Provider
- Kostenlose Informationsquellen
- Recherchestrategie
- Auswahl der geeigneten Datenbanken
- Grundstrategien und Recherchewerkzeuge
- Kosten
- Recherchen der Patentämter
- Stichwortrecherche
- Klassifikationsrecherche
- Reference hunt
- IPC, CPC, F-Terms
- Einführung der gemeinsamen Patentklassifikation (CPC)
- Auswirkungen auf Recherchestrategien
- Neuerungen und Änderungen bei den Internet-Datenbanken
- Übersetzung fremdsprachiger Patentanmeldungen
- Tipps und Tricks zur erfolgreichen Recherche
- Patentrecherche am PC via Internet
Zusätzliche Informationen
Patentrecherche Teil 2