Rasterelektronenmikroskopie und Analyse von Mikrobereichen und Oberflächenschichten

TAE - Technische Akademie Esslingen
In Pfäffikon (Schweiz) und Ostfildern

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Beschreibung

Lernen Sie die Leistungsfähigkeit und die Einsatzmöglichkeiten
der modernen Rasterelektronenmikroskopie
bei der Abbildung von
Oberflächen und in der Mikrobereichsanalyse
kennen. Im Seminar werden unter anderem
Grundlagen, Präparations- und Mikroskopiertechniken
vorgestellt, und Sie erfahren, wie
die Rasterelektronenmikroskopie optimal zur
Abbildung und Analyse von Oberflächen eingesetzt
werden kann. Sie erweitern Ihr Wissen
über analytische Spezialverfahren und alternative
Rastermethoden. Ein weiterer Schwerpunkt
ist die theoretische und praktische Darstellung
von REM/EDX im Verbund mit oberflächenanalytischen
Verfahren bei der Untersuchung
von Schäden – insbesondere Brüchen –
an metallischen Bauteilen, an keramischen
Werkstoffen, Polymeren und Faserverbundwerkstoffen.

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Veranstaltungsort(e)

Wo und wann

Beginn Lage
auf Anfrage
Ostfildern
An Der Akademie 5, 73760, Baden-Württemberg, Deutschland
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auf Anfrage
Pfäffikon
Zürich, Schweiz

Was lernen Sie in diesem Kurs?

Fachkenntnisse
Berufserfahrung

Dozenten

Trainer TAE
Trainer TAE
Spezialgebiet

Themenkreis

Lernen Sie die Leistungsfähigkeit und die Einsatzmöglichkeiten der modernen Rasterelektronenmikroskopie bei der Abbildung von Oberflächen und in der Mikrobereichsanalyse kennen. Im Seminar werden unter anderem Grundlagen, Präparations- und Mikroskopiertechniken vorgestellt, und Sie erfahren, wie die Rasterelektronenmikroskopie optimal zur Abbildung und Analyse von Oberflächen eingesetzt werden kann. Sie erweitern Ihr Wissen über analytische Spezialverfahren und alternative Rastermethoden. Ein weiterer Schwerpunkt ist die theoretische und praktische Darstellung von REM/EDX im Verbund mit oberflächenanalytischen Verfahren bei der Untersuchung von Schäden – insbesondere Brüchen – an metallischen Bauteilen, an keramischen Werkstoffen, Polymeren und Faserverbundwerkstoffen.

Inhalt des Seminars:
> Einführung in die Rasterelektronenmikroskopie
> Aufbau eines Rasterelektronenmikroskops
> Signale und Kontraste
> Mikroskopiertechnik
> Vergleich verschiedener Systeme zur Elektronenstrahlerzeugung
> Präparation
> Kathodolumineszenz
> alternative Rastermethoden
> Röntgenmikroanalyse im Rasterelektronenmikroskop
> Beschichtung nicht leitender Präparate
> Niedervakuum-Rasterelektronenmikroskopie
> Abbildung von Oberflächen und Vermeidung von Abbildungsartefakten
> Beurteilung von Brüchen an metallischen Bauteilen
> Beurteilung von Schäden an Polymer- und Faserverbundwerkstoffen
> Schadensuntersuchungen mit Oberflächenanalytik
> Erfahrungen mit dem EDX
> Bildverarbeitung und Bildanalyse – Partikelanalyse
> Demonstrationen und Übungen in der EMPA

Referenten:
Dr. H. Brandenberger
Gloor Instruments AG, USTER (Schweiz)
Dr. W. Bröcker
DFG Deutsche Forschungsgemeinschaft, Bonn
Dr. L. Duarte
Eidgenössische Materialprüfungs- und, Forschungsanstalt (EMPA), DÜBENDORF (Schweiz)
Dr. R. Hauert
Eidgenössische Materialprüfungs- und, Forschungsanstalt (EMPA), Dübendorf (Schweiz)
Dr. K. Kunze
EMEZ Electron Microscopy ETH Zürich, ZÜRICH (Schweiz)
J. Meyer
Gloor Instruments AG, Geschäftsleitung, USTER (Schweiz)
Dr. Sc. tech. Y. Müller
Institut für Werkstofftechnologie AG, WALLISELLEN (Schweiz)
Dr. M. Roth
Eidgenössische Materialprüfungs- und, Forschungsanstalt (EMPA), DÜBENDORF (Schweiz)
Priv.-Doz. Dr. P. F. Schmidt
Westfälische Wilhelms-Universität Münster
Dipl.-Ing. ETH O. von Trzebiatowski
Institut für Werkstofftechnologie AG, WALLISELLEN (Schweiz)
Dr. S. Wagner
FEI-Schweiz, Oberdorf SO
Dr. R. A. Wepf
EMEZ-Electron Microscopy ETH Zürich, ZÜRICH (Schweiz)
M. Zgraggen
Institut für Werkstofftechnologie AG, WALLISELLEN (Schweiz)