Rasterelektronenmikroskopie und Mikrobereichsanalyse

TAE - Technische Akademie Esslingen
In Ostfildern

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Wichtige informationen

  • Seminar
  • Fortgeschritten
  • Ostfildern
  • 32 Lehrstunden
  • Dauer:
    4 Tage
Beschreibung

Lernen Sie die Leistungsfähigkeit und die Einsatzmöglichkeiten der modernen Rasterelektronenmikroskopie (REM) bei der Abbildung von Oberflächen und in der Mikrobereichsanalyse kennen.

Im Seminar werden unter anderem Grundlagen, Präparations- und
Mikroskopiertechniken sowie alternative Rastermethoden vorgestellt.

Sie erweitern Ihr Wissen über analytische Spezialverfahren
wie Kathodolumineszenz, die zur Detektion von Verunreinigungen unentbehrlich ist.

Dieses Seminar richtet sich an wissenschaftliche und technische Mitarbeiter, die Kenntnisse über Oberflächenuntersuchung in Mikrobereichen benötigen.

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Veranstaltungsort(e)

Wo und wann

Beginn Lage
auf Anfrage
Ostfildern
An Der Akademie 5, 73760, Baden-Württemberg, Deutschland
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Was lernen Sie in diesem Kurs?

Fachkenntnisse
Berufserfahrung

Dozenten

Trainer TAE
Trainer TAE
Spezialgebiet

Themenkreis

Das Rasterelektronenmikroskop erweist sich als vielseitiges Gerät für die morphologische und analytische Untersuchung von Oberflächen. Lernen Sie die Leistungsfähigkeit und die Einsatzmöglichkeiten der modernen Rasterelektronenmikroskopie (REM) bei der Abbildung von Oberflächen und in der Mikrobereichsanalyse kennen.

Inhalt des Seminars:
> Einführung in die Rasterelektronenmikroskopie
> Aufbau eines Rasterelektronenmikroskops
> Signale und Kontraste
> Mikroskopiertechnik
> Vergleich verschiedener Kathodensysteme
> Präparation
> Kathodolumineszenz
> alternative Rastermethoden
> Röntgenmikroanalyse im Rasterelektronenmikroskop
> Elektronenmikroskopie an der Materialprüfungsanstalt Universität Stuttgart
> Beschichtung nichtleitender Proben
> Methoden zur Partikelanalyse
> Abbildung von Oberflächen und Vermeidung von Abbildungsartefakten
> Beurteilung von Schäden an metallischen und nichtmetallischen Werkstoffen: Beurteilung von Bruchflächen bei Metall-, Polymer- und Keramikwerkstoffen

Referenten:
Dr. W. Bröcker
Meckenheim
Dr.-Ing. M. J. Heneka
RJL Micro & Analytic, Gesellschaft für angewandte, Elektronenmikroskopie und Analytik mbH, Karlsdorf
Dr. rer. nat. H. Ruoff
Materialprüfungsanstalt, Universität Stuttgart (MPA)
Priv.-Doz. Dr. P. F. Schmidt
Westfälische Wilhelms-Universität Münster
M. Zgraggen
Institut für Werkstofftechnologie AG, WALLISELLEN (Schweiz)