Beschreibung

Kursart

Kurs

Ort

Essen

Mitarbeiter aus Entwicklungs-, Versuchs-, Einkaufs- und Qualitätsabteilungen von Kfz-Zulieferern, OEMs und allen Industriezweigen, welche sich an den Sichtweisen der Automobilindustrie orientieren möchten.

Standorte und Zeitplan

Essen (Nordrhein-Westfalen, NRW)

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Hollestr. 1, D-45127

Beginn

auf Anfrage

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Inhalte

Einführung

Begriffserklärung, Negativbeispiele, Einordnung in den Produktentstehungsprozess, Lieferanten- und Bauelementeauswahl

Mathematische Modellbildung

Ausfallrate, Ausfallwahrscheinlichkeit, Badewannenkurve, Weibullverteilung, Success-Run

Ausfall elektronischer Bauelemente

Alterungsmechanismen, Fehlerbilder, Aspekte der mechatronischen Integration, Normen und Standards (MIL, AEC-Q,...)

Temperatur und AVT

Wärmetransport, Modelle, Entwärmung, Einfluss der AVT

Testen, prüfen, erproben

Zufällige und systematische Fehler, Bauteilqualifizierung, Beschleunigungsmodelle der Umweltsimulation (Arrhenius, Inverse-Power-Law, Coffin-Manson, Peck, Lawson, HALT, HASS), Lebensdauertest, Burn-in, Run-in, Screening

Reliability prediction

Sinn und Unsinn von Handbüchern mit tabellierten Ausfallraten, FMEA und SIL

Ersatzteilversorgung

Obsolescence Management, Strategien zur Langzeitversorgung und Langzeitlagerung

Die Elektronik-Fibel ist einfach nur genial. Einfach und verständlich, nach so einem Buch habe ich schon lange gesucht. Es ist einfach alles drin was man so als Azubi braucht. Danke für dieses schöne Werk.

Die Kommunikationstechnik-Fibel ist sehr informativ und verständlich. Genau das habe ich schon seit langem gesucht. Endlich mal ein Buch, das kurz und bündig die moderne Informationstechnik beleuchtet.

Zusätzliche Informationen

Nach einer Klärung der wichtigsten Begriffe rund um Qualität und Zuverlässigkeit erfolgt eine Einordnung der Elektronikentwicklung in den automobilen Produktentstehungsprozess. Hierbei werden insbesondere Fragestellungen rund um Lieferanten- und Bauelementeauswahl sowie Sichtweisen zur Gestaltung und Interpretation von Lastenheften erörtert. Einschlägige Normen und Standards sowie deren Weiterentwicklung werden thematisiert. Zum tieferen Verständnis der Beschreibung von Zuverlässigkeit werden die wichtigsten Rechenverfahren vorgestellt und an Beispielen erläutert. Ausgehend von den typischen Mechanismen der Bauteilalterung - u. a. auf Basis von Temperatur und AVT - erfolgt eine Betrachtung, inwiefern die Methoden der Umweltsimulation zu einer Sicherstellung und Steigerung von Zuverlässigkeit genutzt werden können. Ein Schwerpunkt bildet dabei die Vorstellung und Bewertung verschiedener Beschleunigungsmodelle, welche eine zeitliche Raffung von Prüfungen und Lebensdauertests bewirken können. Nach einer Darstellung von Methoden der Reliability prediction mit den Nebenaspekten FMEA und SIL wird abschließend gezeigt, wie sich die vorgestellten Überlegungen zur Zuverlä

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Steigerung der Zuverlässigkeit von Automobilelektroniken

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