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Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik
Kurs
In Wuppertal ()
Beschreibung
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Kursart
Kurs
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Dauer
1 Tag
Zum Seminar Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik Der Einsatz neuer Technologien wie SMD, COB, BGA usw. sowie der Wandel in der Qualitätssicherung (Prozess-Sicherung statt Endkontrolle) fordert ständige Anpassungen, Optimierungen und Einführung neuer Testverfahren. In Teststrategien zu denken ist unabdingbar, wenn man für die heutigen und zukünftigen Produkte die Testkosten reduzieren und trotzdem die Qualität steigern will. Kein Testverfahren alleine bringt ausreichende Fehlerabdeckung. Um aber eine optimale Teststrategie umsetzen zu können, müssen bereits während der Entwicklung die dafür notwendigen Testbarkeitsrichtlinien integriert werden. Jedes Testverfahren benötigt in der Regel auch individuelle Design for Test-Maßnahmen (DFT). Die Betrachtung nur eines einzigen Testverfahrens führt nicht zu dem angestrebten Ziel der Kostenreduzierung und Qualitätssteigerung. Die optimale Teststrategie zu ermitteln, ist Teamarbeit, d.h. Produktion, Prüffeld, Entwicklung und Qualitätssicherung sind involviert. Ziel des Seminars ist es, Ihnen das erforderliche Know-how für die heute aktuellen Testverfahren mit deren Vor- und Nachteilen, die Erarbeitung von optimalen Teststrategien sowie die Integration der Testverfahren im Unternehmensumfeld zu vermitteln.
Hinweise zu diesem Kurs
Teilnehmerkreis (m/w): Ingenieure und Techniker aus den Bereichen Entwicklung und Qualitätssicherung von Elektronik-Baugruppen
Meinungen
Themen
- Elektronik
- Produktion
- Entwicklung
Inhalte
- Ziele und Bedeutung der Sichtkontrolle
- Optische Beurteilungskriterien und Hilfsmittel
- Automatische Inspektion (AOI, AXI)
- Aufbau und Unterschiede von 2D/3D-AOI-Systemen
- Methoden der Bauteil- und Lötstellenerkennung
- Röntgentechnik
- Vergleich der AOI-Methoden
- In-Circuit-Testverfahren
- Aktives und passives Guarding
- Backdriving, Pin-Architekturen, Multiplexing
- Grenzen des In-Circuit-Tests
- Funktionstestverfahren
- Selbsttest (BIST)
- Emulationsverfahren
- Mikroprozessor-Emulation (ICE), ROM-Emolation,
Bus-Emulation - Simulation
- Goodboard-Simulation und Fehlersimulation
- Boundary Scan
- Funktion, Betriebsarten und Teststrategien
- Realisierungen bei Testsystemen
- Vergleich der Testverfahren bezüglich
- Fehlerabdeckung, Fehlererkennung, Diagnose, Adapter- und Testprogrammkosten
- Testbarkeitsrichtlinien (DFT)
- Globale Entwurfsrichtlinien, FMEA, DFT für Sichtkontrolle, AOI, AXI, ICT, FKT und Boundary Scan
- CAD-Link für Testsysteme
- Möglichkeiten und Vorteile der CAD-Datenübernahme
- Computerunterstützte Reparatur
- Test- und Reparaturprozesse, Paperless Repair,
Yield-Regelkreis - Reparaturprozesse mit Nullfehler- und Yield-Regelkreis
- Adaptierungsmöglichkeiten
- Adaptionsarten, Verdrahtung, Auswahl von Federkontaktstiften
- Optimierung von Teststrategien
- Ziele, Einflüsse und Parameter bei der Auswahl von Teststrategien in der Produktion und im Service
Zusätzliche Informationen
Testverfahren und Teststrategien in der Elektronik