Zuverlässigkeitsmethoden in der Produktentwicklung

Technische Akademie Wuppertal
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  • Seminar
  • Wuppertal
  • Dauer:
    1 Tag
Beschreibung

Zum Seminar Zuverlässigkeitsmethoden in der Produktentwicklung Die Ermittlung der Ausfallwahrscheinlichkeit sowie die Sicher­stellung der Lebens­dauer eines technischen Systems wird heute in der Automo­bil­in­dustrie schon bei der Produktentwicklung gefordert. Je früher dabei Probleme erkannt werden, desto geringer sind bekanntlich Aufwand und Kosten für die Fehler­beseitigung. Im Rahmen dieses Seminars lernen die Teilnehmer die wichtigs­ten Methoden zur techni­schen Zuverlässigkeits­analyse kennen. Nach Einführung von Begriffen und Kenngrößen wird auf die Abbildung von Struk­turen und Redundanzprinzipien techn. Systeme einge­gangen. Wichtige Analy­se­me­thoden (quali­tativ und quanti­tativ) werden an prakti­schen Beispielen erklärt. Darüber hinaus werden weitere Methoden aus Forschung und Wissen­schaft erläutert und deren Nutzen für die Zuverlässig­keits­analyse am Beispiel von Fahrzeugkomponenten praxisnah dargelegt. Sie werden nach dem Seminar in der Lage sein, die Methoden in der Praxis auf entspre­chende Systeme anzu­wen­den.

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auf Anfrage
Wuppertal
Hubertusallee 18, 42117, Nordrhein-Westfalen, NRW, Deutschland
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Themenkreis

Seminarinhalt: Zuverlässigkeitsmethoden in der Produktentwicklung

  1. Grundlagen der Zuverlässigkeitstechnik (Überblick)
    • Zuverlässigkeitskenngrößen
      (reparierbare und nichtreparierbare Systeme)
    • Verteilungsfunktionen
      (u.a. Weibull-, Exponential- und Normalverteilung)
    • Redundanzprinzipien
  2. Analysemethoden (Stand der Technik)
    • Systemstrukturen
      (Blockschaltbilder, Analyse, Ausfallarten)
    • Fehlermöglichkeits- und Einflussanalyse
      (FMEA, qualitativ)
    • Fehlerbaumanalyse
      (FBA, qualitativ und quantitativ; Importanzkenngrößen)
  3. Analysemethoden (Stand von Wissenschaft und Forschung)
    • Stochastische Prozesse
      (Markov-Modelle, Zustandsdiagramme, Analyse)
    • Monte-Carlo-Simulation
      (MCS, Grundlagen, Zufallszahlen, direkte MCS, Anwendung)