Metallographische Untersuchungsmethoden, Teil C - mit Übungen

TAE - Technische Akademie Esslingen
In Ostfildern

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Wichtige informationen

  • Seminar
  • Anfänger
  • Ostfildern
  • 24 Lehrstunden
  • Dauer:
    3 Tage
Beschreibung

TAE – die Akademie für Fach- und Führungskräfte aus Wirtschaft und Verwaltung in Baden-Württemberg

Aktuelles Fachwissen und praktisches Können für Ihren beruflichen Erfolg: Die Technische Akademie Esslingen (TAE) mit Sitz in Ostfildern - nahe der Landeshauptstadt Stuttgart - macht Fach- und Führungskräfte fit für die Herausforderungen der Zukunft. Seit fast 60 Jahren.

Mit acht Geschäftsfeldern von Maschinenbau über IT bis zu Managementthemen, jährlich rund 1.000 Veranstaltungen und mehr als 2.000 hochkarätigen Referenten aus Forschung und Unternehmenspraxis finden Sie hier das passende Angebot für Ihr persönliches Bildungsziel.

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Veranstaltungsort(e)

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Ostfildern
An Der Akademie 5, 73760, Baden-Württemberg, Deutschland
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Was lernen Sie in diesem Kurs?

Fachkenntnisse
Berufserfahrung

Dozenten

Trainer TAE
Trainer TAE
Spezialgebiet

Themenkreis

Inhalt des Seminars:
Theoretischer Teil
> Elektronenmikroskopie als Hilfsmittel bei der Werkstoffentwicklung und Werkstoffoptimierung
> konfokale Laser-Scan-Mikroskopie in der Materialforschung
> Grundlagen der Abbildung im Raster- und Transmissionselektronenmikroskop
> Röntgenmikroanalyse und Elektronenbeugung (EDX, WDX, EBSD) in der Werkstoffprüfung und -entwicklung
> Focussed Ion Beam (FIB) in der Materialforschung
> elektronenmikroskopische Untersuchungen an Gusseisen und Stahlguss
> elektronenmikroskopische Untersuchungen an hochwarmfesten Werkstoffen
> elektronenmikroskopische Untersuchungen an Nichteisen-Metallen
> Verwendung des FIB zur Charakterisierung des Gefüge- und Schädigungszustandes
> die Methode EBSD zur Untersuchung der verformungsinduzierten Martensitumwandlung in austenitischen Werkstoffen

Demonstrationen und Übungen an der Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
> Übung am REM I: Charakterisierung von Ausscheidungen (Aluminiumlegierung) und Probenvorbereitung
> Übung am REM II: Abbildung von Oberflächen (Bruchflächen, Korrosion, Verschleiß)
> Übungen am analytischen Transmissionselektronenmikroskop: Charakterisierung von Ausscheidungen im Nanometer-Bereich
> Probenpräparation für das Transmissionselektronenmikroskop, dünne Metallfolien und Ausziehabdrücke
> Probenpräparation für das Rasterelektronenmikroskop (Ablösen von Belägen, Aufbrechen von Rissen, Bedampfen nichtleitender Proben)

Referenten:
Dr. S. Bueble
Carl Zeiss NTS GmbH, Oberkochen
Dr. rer. nat. F. Kauffmann
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dr. rer. nat. J. Kinder
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Prof. Dr.-Ing. K. Maile
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart, Otto-Graf-Institut
Dr. rer. nat. H. Ruoff
Materialprüfungsanstalt, Universität Stuttgart (MPA)
Dr. J. Schmeidel
Carl Zeiss Microscopy GmbH, Göttingen
Dr. rer. nat. E. Soppa
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dr.-Ing. M. Speicher
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dr.-Ing. A. Udoh
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart
Dipl.-Ing. D. Willer
Materialprüfungsanstalt (MPA), Universität Stuttgart


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