AFM - Analyse und Fähigkeitsnachweis von Messsystemen
Seminar
In Chemnitz, Berlin, Hamburg und an 2 weiteren Standorten
Beschreibung
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Kursart
Seminar
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Niveau
Anfänger
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Ort
Wichtige Forderungen und Begriffe bei der Messsystemanalyse. Verständnis und Interpretation von Kennzahlen und Grafiken bei der Messsystemanalyse. Vergleich der Methoden und unterschiedlicher Richtlinien
Standorte und Zeitplan
Lage
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Meinungen
Inhalte
TEQ Technologietransfer & Qualitätssicherung GmbH
Kurzbeschreibung:
- Wichtige Forderungen und Begriffe bei der Messsystemanalyse
- Verständnis und Interpretation von Kennzahlen und Grafiken bei der Messsystemanalyse
- Vergleich der Methoden und unterschiedlicher Richtlinien
Detailbeschreibung:
In diesem Seminar haben wir die Methoden des Leitfadens zu Fähigkeitsanalysen von Messmitteln aus der Automobilindustrie, die MSA 3rd Edition sowie grundlegende Überlegungen zur Prüfmittelüberwachung und zur Messunsicherheit zusammengeführt. Ergänzende Themen sind Methoden zur Analyse attributiver Messmittel, Standardmessmittel und einseitig begrenzter Merkmale. Das Seminar bietet eine umfassende Einführung in alle derzeit gängigen und geforderten Methoden und Verfahren.
AFM - Analyse und Fähigkeitsnachweis von Messsystemen