AFM - Analyse und Fähigkeitsnachweis von Messsystemen

In Chemnitz, Berlin, Hamburg und an 2 weiteren Standorten

890 € zzgl. MwSt.
  • Tipologie

    Seminar

  • Niveau

    Anfänger

Beschreibung

Wichtige Forderungen und Begriffe bei der Messsystemanalyse. Verständnis und Interpretation von Kennzahlen und Grafiken bei der Messsystemanalyse. Vergleich der Methoden und unterschiedlicher Richtlinien

Einrichtungen

Lage

Beginn

Berlin
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Fanny-Zobel-Straße 9, 12435

Beginn

auf Anfrage
Chemnitz (Sachsen)
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Stadlerstraße 14a, 09126

Beginn

auf Anfrage
Hamburg
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Kurze Mühren 1, 20095

Beginn

auf Anfrage
Stuttgart (Baden-Württemberg)

Beginn

auf Anfrage
Weinheim (Baden-Württemberg)

Beginn

auf Anfrage

Fragen & Antworten

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Themenkreis

Veranstalter:
TEQ Technologietransfer & Qualitätssicherung GmbH
Kurzbeschreibung:
    Wichtige Forderungen und Begriffe bei der Messsystemanalyse
  • Verständnis und Interpretation von Kennzahlen und Grafiken bei der Messsystemanalyse
  • Vergleich der Methoden und unterschiedlicher Richtlinien

Detailbeschreibung:
In diesem Seminar haben wir die Methoden des Leitfadens zu Fähigkeitsanalysen von Messmitteln aus der Auto­mobil­industrie, die MSA 3rd Edition sowie grundlegende Überlegungen zur Prüfmittelüberwachung und zur Mess­unsicherheit zusammengeführt. Ergänzende Themen sind Methoden zur Analyse attributiver Messmittel, Standard­messmittel und einseitig begrenzter Merkmale. Das Seminar bietet eine umfassende Einführung in alle derzeit gängigen und geforderten Methoden und Verfahren.
890 € zzgl. MwSt.