AFM - Analyse und Fähigkeitsnachweis von Messsystemen

Seminar

In Chemnitz, Berlin, Hamburg und an 2 weiteren Standorten

890 € zzgl. MwSt.

Beschreibung

  • Kursart

    Seminar

  • Niveau

    Anfänger

Wichtige Forderungen und Begriffe bei der Messsystemanalyse. Verständnis und Interpretation von Kennzahlen und Grafiken bei der Messsystemanalyse. Vergleich der Methoden und unterschiedlicher Richtlinien

Standorte und Zeitplan

Lage

Beginn

Berlin
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Fanny-Zobel-Straße 9, 12435

Beginn

auf Anfrage
Chemnitz (Sachsen)
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Stadlerstraße 14a, 09126

Beginn

auf Anfrage
Hamburg
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Kurze Mühren 1, 20095

Beginn

auf Anfrage
Stuttgart (Baden-Württemberg)

Beginn

auf Anfrage
Weinheim (Baden-Württemberg)

Beginn

auf Anfrage

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Inhalte

Veranstalter:
TEQ Technologietransfer & Qualitätssicherung GmbH
Kurzbeschreibung:
    Wichtige Forderungen und Begriffe bei der Messsystemanalyse
  • Verständnis und Interpretation von Kennzahlen und Grafiken bei der Messsystemanalyse
  • Vergleich der Methoden und unterschiedlicher Richtlinien

Detailbeschreibung:
In diesem Seminar haben wir die Methoden des Leitfadens zu Fähigkeitsanalysen von Messmitteln aus der Auto­mobil­industrie, die MSA 3rd Edition sowie grundlegende Überlegungen zur Prüfmittelüberwachung und zur Mess­unsicherheit zusammengeführt. Ergänzende Themen sind Methoden zur Analyse attributiver Messmittel, Standard­messmittel und einseitig begrenzter Merkmale. Das Seminar bietet eine umfassende Einführung in alle derzeit gängigen und geforderten Methoden und Verfahren.

AFM - Analyse und Fähigkeitsnachweis von Messsystemen

890 € zzgl. MwSt.