AFM - Analyse und Fähigkeitsnachweis von Messsystemen

TEQ Training & Consulting GmbH
In Chemnitz, Berlin, Hamburg und an 2 weiteren Standorten

890 
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Beschreibung

Wichtige Forderungen und Begriffe bei der Messsystemanalyse. Verständnis und Interpretation von Kennzahlen und Grafiken bei der Messsystemanalyse. Vergleich der Methoden und unterschiedlicher Richtlinien

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Veranstaltungsort(e)

Wo und wann

Beginn Lage
auf Anfrage
Berlin
Fanny-Zobel-Straße 9, 12435, Berlin, Deutschland
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auf Anfrage
Chemnitz
Stadlerstraße 14a, 09126, Sachsen, Deutschland
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auf Anfrage
Hamburg
Kurze Mühren 1, 20095, Hamburg, Deutschland
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auf Anfrage
Stuttgart
Baden-Württemberg, Deutschland
auf Anfrage
Weinheim
Baden-Württemberg, Deutschland

Themenkreis

Veranstalter:
TEQ Technologietransfer & Qualitätssicherung GmbH
Kurzbeschreibung:
    Wichtige Forderungen und Begriffe bei der Messsystemanalyse
  • Verständnis und Interpretation von Kennzahlen und Grafiken bei der Messsystemanalyse
  • Vergleich der Methoden und unterschiedlicher Richtlinien

Detailbeschreibung:
In diesem Seminar haben wir die Methoden des Leitfadens zu Fähigkeitsanalysen von Messmitteln aus der Auto­mobil­industrie, die MSA 3rd Edition sowie grundlegende Überlegungen zur Prüfmittelüberwachung und zur Mess­unsicherheit zusammengeführt. Ergänzende Themen sind Methoden zur Analyse attributiver Messmittel, Standard­messmittel und einseitig begrenzter Merkmale. Das Seminar bietet eine umfassende Einführung in alle derzeit gängigen und geforderten Methoden und Verfahren.