AFM - Analyse und Fähigkeitsnachweis von Messsystemen

TEQ Training & Consulting GmbH
In Chemnitz, Berlin, Hamburg und an 2 weiteren Standorten

890 
zzgl. MwSt.
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Wichtige informationen

Tipologie Seminar
Niveau Anfänger
Beginn An 5 Standorten
Beschreibung

Wichtige Forderungen und Begriffe bei der Messsystemanalyse. Verständnis und Interpretation von Kennzahlen und Grafiken bei der Messsystemanalyse. Vergleich der Methoden und unterschiedlicher Richtlinien

Veranstaltungsort(e)

Wo und wann

Beginn Lage
auf Anfrage
Berlin
Fanny-Zobel-Straße 9, 12435, Berlin, Deutschland
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auf Anfrage
Chemnitz
Stadlerstraße 14a, 09126, Sachsen, Deutschland
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auf Anfrage
Hamburg
Kurze Mühren 1, 20095, Hamburg, Deutschland
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auf Anfrage
Stuttgart
Baden-Württemberg, Deutschland
auf Anfrage
Weinheim
Baden-Württemberg, Deutschland
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Berlin
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Chemnitz
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Lage
Hamburg
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Stuttgart
Baden-Württemberg, Deutschland
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Weinheim
Baden-Württemberg, Deutschland

Themenkreis

Veranstalter:
TEQ Technologietransfer & Qualitätssicherung GmbH
Kurzbeschreibung:
    Wichtige Forderungen und Begriffe bei der Messsystemanalyse
  • Verständnis und Interpretation von Kennzahlen und Grafiken bei der Messsystemanalyse
  • Vergleich der Methoden und unterschiedlicher Richtlinien

Detailbeschreibung:
In diesem Seminar haben wir die Methoden des Leitfadens zu Fähigkeitsanalysen von Messmitteln aus der Auto­mobil­industrie, die MSA 3rd Edition sowie grundlegende Überlegungen zur Prüfmittelüberwachung und zur Mess­unsicherheit zusammengeführt. Ergänzende Themen sind Methoden zur Analyse attributiver Messmittel, Standard­messmittel und einseitig begrenzter Merkmale. Das Seminar bietet eine umfassende Einführung in alle derzeit gängigen und geforderten Methoden und Verfahren.